DENS Wildfire TEM 原位加熱方案
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01 產(chǎn)品概況
Wildfire 原位加熱系統(tǒng)是為了探索材料在高溫下的反應(yīng)和狀態(tài)變化的研究人員而設(shè)計(jì)的，其*的穩(wěn)定性超越了市場(chǎng)上大部分的同類(lèi)產(chǎn)品，允許從室溫加熱到1300℃，并在所有的方向上保證優(yōu)異的溫度控制和樣品穩(wěn)定，確保了在高溫下觀察樣品動(dòng)態(tài)時(shí)，TEM能保持最高的分辨率和分析性能。
同時(shí)，設(shè)計(jì)的芯片和4點(diǎn)探針?lè)?，可通過(guò)快速反饋實(shí)現(xiàn)溫度的局部測(cè)量，從而實(shí)現(xiàn)即時(shí)穩(wěn)定和精確的溫度控制。對(duì)于需要進(jìn)行高溫下三維重構(gòu)研究的客戶(hù)，我們也配備了α傾轉(zhuǎn)角達(dá)到70°的樣品桿，便于客戶(hù)進(jìn)行多方位的研究。
02 產(chǎn)品特點(diǎn)
樣品制備簡(jiǎn)單便捷 1. 可簡(jiǎn)單快速地進(jìn)行薄膜轉(zhuǎn)移 大面積范圍內(nèi)都保持平整，方便轉(zhuǎn)移樣品薄膜 2. 滴加的樣品顆粒都在視野中 樣品直接滴加到芯片上，可有效的降低毛細(xì)效應(yīng) 3. 優(yōu)質(zhì)的 FIB 樣品薄片 使用我們專(zhuān)有的 FIB 樣品臺(tái)可輕松制備樣品薄片，并直 接在芯片上進(jìn)行最終減薄，而不會(huì)影響加熱性能。 |
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可靠的加熱控制 1. 準(zhǔn)確的溫度控制 通過(guò)四探針?lè)訜峥梢栽谒械臏囟冗_(dá)到精準(zhǔn)控制，溫 度穩(wěn)定性偏差 ≤ 0.005°C。 2. 全可視區(qū)域的超高溫度均勻性 溫度均勻性偏差小于 0.5%。 3. 支持客戶(hù)親自驗(yàn)證其準(zhǔn)確性和均勻性 客戶(hù)可通過(guò)使用 EELS 和 SAED 技術(shù)在透射電鏡 （TEM）中直接驗(yàn)證溫度。
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高質(zhì)量結(jié)果 1. 高穩(wěn)定性 即使溫度高達(dá) 1000 °C，漂移率也小于 200 nm，并且可 以在最短的時(shí)間內(nèi)穩(wěn)定。 2. 不受影響的 STEM/TEM 性能 極小的 Z 方向位移（膨脹）有效保持了 TEM 的最佳分辨 率，而不需要頻繁移動(dòng)樣品臺(tái)來(lái)達(dá)到同研發(fā)的目的。 3. 優(yōu)異的分析能力 微型加熱器極大地降低紅外輻射，可在高達(dá) 1000 °C 的 溫度下進(jìn)行 EDS 分析。
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03. 案例分享
下圖是 Wildfire 原位樣品桿在 1000℃ 下采集到的 PdAu 納米顆粒的 mapping 圖譜，得到了高質(zhì)量的 EDS 信號(hào)，使得高溫下的 EDS 分析成為可能。當(dāng)前，許多科學(xué)家借助 Wildfire 原位樣品桿在高影響因子的期刊上發(fā)表了高質(zhì)量的文章，而利用原位透射電鏡了解材料的形態(tài)和成分變化，也在科研領(lǐng)域越來(lái)越受歡迎了。
04 應(yīng)用領(lǐng)域
05 原位實(shí)驗(yàn)技術(shù)簡(jiǎn)介
透射電子顯微鏡（TEM）一直是觀察微觀世界的有力工具。尤其是球差矯正器的出現(xiàn)，科學(xué)家已經(jīng)可以實(shí)現(xiàn)在原子尺度上對(duì)材料的化學(xué)結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征成像。此外，TEM 的進(jìn)步也帶動(dòng)了 CCD 相機(jī)的發(fā)展，這樣，TEM 就同時(shí)具有優(yōu)異的空間分辨率和時(shí)間分辨率，那么時(shí)間和空間的結(jié)合，是否可以讓 TEM 動(dòng)起來(lái)？
眾所皆知，TEM 需要在高真空條件下表征靜止?fàn)顟B(tài)下的樣品，但這不足以反映材料在真實(shí)環(huán)境下的微觀結(jié)構(gòu)。為此，荷蘭 DENSsolutions 公司多位科學(xué)家利用最新的 MEMS 技術(shù)，設(shè)計(jì)出的納米芯片，據(jù)此可以向 TEM 中引入動(dòng)態(tài)外界刺激條件，模擬樣品在真實(shí)環(huán)境下的狀態(tài)，打破壓力的限制，記錄樣品的動(dòng)態(tài)變化過(guò)程，讓 TEM真正的實(shí)現(xiàn)動(dòng)起來(lái)。
荷蘭 DENSsolutions 公司為透射電鏡提供技術(shù)先進(jìn)的、納米尺度的原位顯微工具，其產(chǎn)品可以為原位 TEM 樣品施加外界刺激，捕捉 TEM 樣品在真實(shí)環(huán)境下的動(dòng)態(tài)現(xiàn)象。目前，已經(jīng)可以在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種狀態(tài)。
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